产品型号:
更新时间:2019-07-25
厂商性质:经销商
访 问 量 :7698
0574-86861636
产品简介
MATS-3000M硅钢材料测量装置是基于computer(计算机)、Software 软件、A/D数据采集和ARM嵌入式系统等技术应用条件下的专业磁测量设备。
MATS-3000M硅钢材料测量装置运用数字波形补偿和数字反馈技术,可准确测量电工钢片(带)、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料材料在20Hz~2kHz频率范围内的交流磁性参数:比总损耗Ps、磁极化强度Jm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅磁导率,以及交流磁化曲线和损耗曲线。
主要特点
装置技术参数
1、工作环境
输入电源 | 单相200V~240V,50Hz±10%,大10A |
使用环境 | 环境温度:23±5℃;环境湿度:30~75%RH |
外磁场干扰 | 应避免 |
热平衡时间 | 10分钟 |
2、测量范围
适用标准 | GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6 |
测量材料 | 可测量电工钢(硅钢)、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶和电工纯铁等软磁材料 |
样品形状 | 可采用爱泼斯坦方圈或磁导计测量片状和条状等开路样品 |
可绕线测量环形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和双孔等闭路样品 | |
测量参数 | Ps、Jm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等参数。 |
3、装置参数
型号 参数 | MATS-3000M/k50A | MATS-3000M/k50B | MATS-3000M/k50C | |
大输出功率 | 500VA正弦波(20Hz-40Hz:150VA;40Hz-1KHz:500VA;1KHz-2K Hz为350VA) | |||
频率范围 | 20Hz~2k | 40Hz~1.2k | 40Hz~1k | |
频率细度 | 1Hz | |||
输出电压 | 0~1V~10V~50V~150V 四档自动量程 | |||
大输出电流 | 0~10A | |||
电流采样 | 6.33mA~20A,八档自动量程 | |||
电压采样 | 1V~316V,六档自动量程 | |||
测量模式 | 锁B | 有 | 有 | 有 |
锁H | 有 | 有 | 无 | |
波形补偿 | 有 | 无 | 无 | |
谐波测试 | 有 | 无 | 无 | |
保护功能 | 过热、过流、过压和参数保护 | |||
数据采集卡 | 采样速率:40MHz×2通道;分辨率和线性度:12Bit±1/2LSB | |||
工控计算机 | 研华IPC-510或研祥IPC-810 | |||
操作系统 | Windows XP或Windows 7 | |||
打印机 | 黑白激光打印机 |
4、系统参数
4.1、依据国标GB/T 3655-2000,在50Hz、60Hz频率下,使用25cm爱泼斯坦方圈测量30×300的硅钢标样,技术指标如下:
被测参数 | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |
不确定度(k=2) | 1 | 1 | 2 | 1 | 2 | |
重复性(恒温) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |
备注 | 锁B测试:无取向片Bm≤1.5T 取向片Bm≤1.7T | 锁H测试:无取向片Hm≥1000A/m 取向片Hm≥500A/m | ||||
4.2、依据国标GB/T 13789-2008,在50Hz、60Hz频率下,使用SST-500单片磁导计测量500×500的硅钢标样,技术指标如下:
被测参数 | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |
不确定度(k=2) | 1.5 | 1.5 | 2 | 1 | 3 | |
重复性(恒温) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |
备注 | 锁B测试:无取向片Bm=0.8~1.5T | 锁H测试:无取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m | ||||
4.3、依据国标GB/T 3658-2008,在20Hz~2kHz频率下,测量坡莫合金环形试样,技术指标如下:
被测参数 | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
不确定度(k=2) | 3 | 2 | - | 1 | 1 |
重复性(恒温) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 |
备注 | 1、试样应为薄壁环,外径/内径≤1.25。 |
4.4、依据国标GB/T 19346.1-2007,测量非晶环形试样,技术指标如下:
被测参数 | Ps(%) | Ss(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
不确定度(k=2) | 5 | 5 | 3 | - | 1 | 2 |
重复性(恒温) | ± 3 | ± 2.5 | ± 2 | ± 2 | ± 0.5 | ± 1 |
备注 | ㈠.试样应为薄壁环,外径/内径≤1.5。 ㈡.锁B测试,且Bm=100mT~200mT;测试前应先退磁,退磁场频率≤测试频率。 ㈢.不确定度为“-”,表示国标中不要求。 |
软件功能
⑴、操作系统:支持WindowsXP和Windows7(32位)操作系统。
⑵、系统语言:可提供中文或英文操作界面。
⑶、测量模式:支持固定频率、固定Bm或固定Hm等多种测量模式;可自动连续测量,多支持255个测试点。
⑷、采样波形:实时显示I(t)、U(t)、B(t)采样波形,可显示曲线上每一个数据点的坐标信息。
⑸、样品规格:支持环形、EE、EI、CD、矩形、双孔、BS和其它等各种形状样品参数的输入。
⑹、文件管理:有保存数据,删除数据,清除全部数据等功能。
⑺、数据文件:包含采样数据、样品参数、仪器参数和测试方案,文件采用文本格式,可使用记事本、
word或Excel表格打开。
⑻、数据导出:测试数据可直接输出到Excel表格、word文档或JPG图片。
⑼、曲线显示:可显示B(H)磁滞回线;进行多点组簇后,可显示B(H)磁滞回线簇、B(H)磁化曲线、μa(H)磁导率曲线和Ps(B)损耗曲线,可显示曲线上每一个数据点的坐标信息;可将不同条件下测得的B(H)磁化曲线和Ps(B)损耗曲线组合到一张图纸上,以便进行对比分析。
⑽、合格判定:按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等参数设定上下限,对测试结果进行合格判定,通过数据表格的颜色来确定。
⑾、测试报告:包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数;可打印、预览、保存JPG图形、E-mail发送JPG图片文件;可在测试报告上添加用户标志和企业名称。
⑿、单位制式:有多种单位制式可选,以保证不同用户各自的使用习惯。