TIME2170超声波测厚仪是北京时代之峰科技有限公司推出的一款使用简便、测量精确的仪器,广泛应用于金属和非金属材料的薄件测量或高精度测量。
涂镀层测量仪MMS PC2,搭载 Windows™ CE 操作系统,是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。设备通过插卡实现模块化设计,能实现与同名手持式仪器相同的功能。为较大程度地提高适用性,可从丰富的探头种类中选择相应的探头,以定量测量样品的各种属性和规格,如涂镀层厚度、导电性以及铁素体含量等。
XDV-µ涂镀层厚度测量仪是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜,光斑直径(FWHM)可达10至60µm。短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了通用型XDV-µ型仪器,还有专门为电子和半导体行业而设计的仪器。如XDV-µ LD是专为测量线路板而优化的,而XDV-µ
FISCHER通过GOLDSCOPE涂镀层厚度测量仪系列仪器,为无损的黄金和贵金属测试提供定制化解决方案。这些耐用的X射线荧光仪器,其软硬件均为珠宝黄金行业而设计。专注于重要的功能,在控制成本的同时仍只采用广受认可、高质量的组件。
TIME2501覆层测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性(锌铝铬铜橡胶油漆等)覆盖层厚度的测量。本仪器符合下列有关标准:GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法 可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。